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鍵合金絲是半導(dǎo)體封裝用引線鍵合絲的一種，可在導(dǎo)電性、熱傳導(dǎo)性、耐腐蝕性、穩(wěn)定 性、加工性之間取得最佳平衡，讓其在高端市場中占據(jù)主要地位。
3D Wafer Bump（晶元錫焊）、Wire Bonding（引線鍵合）AOI檢測系統(tǒng)
高精度3D Wafer（晶元）檢測精密解析度配置可實現(xiàn)針對Foot形態(tài)元件的整體檢測
可直接檢測鏡面元件，避免反光問題
奔創(chuàng)特有的3D技術(shù) 實現(xiàn)元件的精準(zhǔn)3D成型，機(jī)器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測。
支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的解決方案
AOI + SPI 混合檢測系統(tǒng)
精密解析度實現(xiàn)針對Bump、Mini LED、009004等各種微型、密集型元件的3D檢測
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